用ps光电导采样技术测量微波单片集成电路的S参数

• 作者: 何庆国 吕福云 潘家齐 盖琦 袁树忠 赵源超
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: S-参数 采样测量 光导开关
• 年，卷（期）: 1999,（2）
• 所属期刊栏目: 学术论文与技术报告
• 页码范围: 26-28
• 页数: 3页
• 分类号: TN6
• 字数: 2315字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0372-2112.1999.02.008

摘要

本文报道用光电导采样技术测量微波单片集成电路的S参数的基本原理. 首次用光电导采样技术测量了宽带(18～36GHz)低噪声三级放大器的S参数,与用网络分析仪测量的结果进行了比较,一致性很好.而光电导采样技术的测量带宽已达到100GHz.