微波单片集成电路测试技术研究

• 作者: 袁帅 邱云峰
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: MMIC 微波参数测试 元器件可靠性 微波测试夹具
• 年，卷（期）: 2018,（11）
• 所属期刊栏目: 应用研究
• 页码范围: 52-53
• 页数: 2页
• 分类号: TN454
• 字数: 1437字
• 语种: 中文
• DOI: 10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.11.30

摘要

微波单片集成电路主要应用于无线通讯、雷达、电子对抗等领域,近年随着装备发展对微波器件需求越来越大,其可靠性保证要求也越来越高,而目前单片有源微波器件在国内还处于起步阶段,相关的检测试验技术方法欠缺.针对这一问题,本文开展有源微波器件测试技术研究,以微波放大器、射频开关等几类典型器件为例介绍回波损耗、1dB压缩点、单边带相位噪声等主要微波特性参数的测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱云峰		8	3	1.0	1.0
2	袁帅		2	2	1.0	1.0