基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
首先评述了系统级集成电路的发展现状,然后介绍了系统级集成电路的设计技术,其中包括系统级集成电路的设计方法、系统级集成电路中的IP问题及深亚微米设计技术;简述了系统级集成电路的测试技术和芯片加工技术;最后预测了系统级集成电路的未来发展.
推荐文章
CMOS集成电路瞬态电流片外电流传感器电路
CMOS集成电路
瞬态电流
有阻开路
测试技术
SMIF系统在集成电路制造中的应用
SMIF
集成电路
制造应用
如何保证集成电路的测试质量
集成电路测试
硬件
软件
结果分析
管理
集成电路测试系统延迟线性能分析
集成电路测试
延迟线
分辨率
精度
CMOS
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 集成电路进入片上系统时代
来源期刊 微处理机 学科 工学
关键词 系统级集成电路 片上系统 IP 深亚微米 芯片
年,卷(期) 2000,(1) 所属期刊栏目 综述与评论
研究方向 页码范围 1-5
页数 5页 分类号 TP3
字数 6860字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-2279.2000.01.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王效平 3 75 2.0 3.0
2 刘捷臣 2 75 2.0 2.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (5)
节点文献
引证文献  (37)
同被引文献  (1)
二级引证文献  (26)
1997(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1998(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
1999(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2000(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2002(2)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(0)
2003(4)
  • 引证文献(4)
  • 二级引证文献(0)
2004(4)
  • 引证文献(4)
  • 二级引证文献(0)
2005(6)
  • 引证文献(6)
  • 二级引证文献(0)
2006(6)
  • 引证文献(5)
  • 二级引证文献(1)
2007(7)
  • 引证文献(6)
  • 二级引证文献(1)
2008(6)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(4)
2009(4)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(4)
2010(2)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(2)
2011(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2012(3)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(2)
2013(5)
  • 引证文献(2)
  • 二级引证文献(3)
2014(3)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(3)
2015(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
2016(2)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(1)
2017(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2018(4)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(3)
2019(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2020(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
系统级集成电路
片上系统
IP
深亚微米
芯片
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微处理机
双月刊
1002-2279
21-1216/TP
大16开
沈阳市皇姑区陵园街20号
1979
chi
出版文献量(篇)
3415
总下载数(次)
7
论文1v1指导