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摘要:
用磁控溅射方法在玻璃基底上制备了a-Si/SiO2 超晶格.利用TEM和X射线衍射技术对其结构进行了分析,并采用多种光谱测量手段,如Raman光谱、吸收光谱和光致发光谱,对该结构的光学性质进行了研究.结果表明,随纳米Si层厚度的减小,Raman峰发生展宽,吸收边以及光荧光峰发生蓝移.用单光束Z扫描技术研究了a-Si/SiO2 超晶格结构的非线性光学性质.这一结果较多孔硅的相应值大两个量级.还对影响非线性效应增强的因素进行了讨论.
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能带结构
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 a-Si/SiO2超晶格结构的非线性光学性质
来源期刊 科学通报 学科 工学
关键词 a-Si/SiO2超晶格 光谱研究 光学非线性 量子限制效应
年,卷(期) 2000,(22) 所属期刊栏目 简报
研究方向 页码范围 2383-2387
页数 5页 分类号 TQ17
字数 3323字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0023-074X.2000.22.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘宁宁 中国科学院物理研究所光物理实验室 6 64 4.0 6.0
2 陈凡 中国科学院物理研究所光物理实验室 20 246 10.0 15.0
3 王晓光 中国科学院物理研究所光物理实验室 38 172 7.0 11.0
4 陈正豪 中国科学院物理研究所光物理实验室 22 163 9.0 12.0
5 潘少华 中国科学院物理研究所光物理实验室 6 55 2.0 6.0
6 王荣平 中国科学院物理研究所光物理实验室 4 10 1.0 3.0
7 孙甲明 中国科学院物理研究所光物理实验室 2 14 2.0 2.0
8 师文生 中国科学院物理研究所光物理实验室 2 14 2.0 2.0
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