FCT6芯片的内建自测试方法

• 作者: 张盛兵 樊晓桠 牟澄宇 王巍 高德远
• 来源期刊: 西北工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 可测试性设计 微处理器测试 故障仿真
• 年，卷（期）: 2000,（3）
• 页码范围: 352-356
• 页数: 5页
• 分类号: TP306
• 字数: 3148字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-2758.2000.03.004

摘要

FCT6芯片是一个集成了Intel 8031微处理器及一些外围电路的嵌入式微控制器,它的集成度和复杂度高,又有嵌入式RAM部件,而且芯片管脚数相对较少,必须要有一定的可测试性设计来简化测试代码,提高故障覆盖率.简要讨论了FCT6芯片的以自测试为核心的可测试性设计框架,着重介绍了内建自测试的设计与实现,即:芯片中控制器PLA和内嵌RAM结构的内建自测试设计.测试代码开发过程中的仿真结果表明,这些可测试性设计大大缩短了测试代码的长度,并保证了满意的故障覆盖率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高德远	西北工业大学计算机科学与工程系	166	1045	15.0	24.0
2	张盛兵	西北工业大学计算机科学与工程系	142	912	15.0	23.0
3	樊晓桠	西北工业大学计算机科学与工程系	170	1393	17.0	29.0
4	牟澄宇	西北工业大学计算机科学与工程系	4	28	3.0	4.0
5	王巍	西北工业大学计算机科学与工程系	31	244	9.0	14.0