CMOS存储器中地址译码器的开路故障及测试

• 作者: 刘建都 张安堂
• 来源期刊: 空军工程大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: CMOS存贮器 地址译码器 开路故障 推进测试算法
• 年，卷（期）: 2000,（2）
• 页码范围: 78-81
• 页数: 4页
• 分类号: TP277
• 字数: 2694字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-3516.2000.02.022

摘要

对CMOS存储器中地址译码器的开路故障进行了分析和分类,得出了其中有一类开路故障不能用常用的测试算法可靠的测试出,给出了测试该类开路故障的测试方法以及针对该类开路故障的容错性设计方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘建都	空军工程大学导弹学院	13	79	6.0	8.0
2	张安堂	空军工程大学导弹学院	31	147	6.0	10.0