电子辐照对VO2薄膜热致相变过程中光学性能的影响

• 作者: 何捷 卢勇 卢铁城 林理彬 邹萍
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电子辐照 光透射性能 VO2薄膜
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 页码范围: 99-104
• 页数: 6页
• 分类号: TQ135.1|O571.33
• 字数: 3021字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-985X.2001.01.017

摘要

利用能量为1.7MeV，注量分别为1013～1015/cm2的电子束辐照二氧化钒薄膜，对辐照及未辐照样品进行了UV-VIS、XPS参数测试，并测量900nm处光透射性能随温度的变化。发现电子辐照导致了VO2薄膜中的V离子价态由V4+向V5+转变，薄膜热致相变前后的光透射比随注量增加变化较小，只在注量为1014/cm2时光透射比减小得较明显；相变温度点及热滞回线宽度随注量增加出现显著变化。并对有关的结果进行了讨论。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林理彬	四川大学物理系	90	605	13.0	20.0
2	何捷	四川大学物理系	48	382	11.0	17.0
3	卢勇	四川大学物理系	27	243	8.0	14.0
4	卢铁城	四川大学物理系	71	351	9.0	14.0
5	邹萍	四川大学分析测试中心	27	214	9.0	13.0