集成电路探针测试程序的优化

• 作者: 吕浩
• 来源期刊: 集成电路应用
• 学科: 地球科学
• 年，卷（期）: 2001,（1）
• 所属期刊栏目: 生产与测试
• 页码范围: 17-19
• 页数: 3页
• 分类号: P5
• 字数: 2967字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2583.2001.01.005

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕浩		1	0	0.0	0.0