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多芯片组件(MCM)可靠性技术探讨
多芯片组件
可靠性
失效机理
自动光学检测技术在芯片封装中的应用
FCBGA
芯片封装
非接触检测
自动光学检测
AOI
集成传感器芯片的封装应力分析
集成传感器
封装
有限元
残余应力
多芯片组件(MCM)的可测性设计
多芯片组件
JTAG
可测性设计
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 少数芯片封装(FCP):MCM的复兴
来源期刊 混合微电子技术 学科 工学
关键词 少数芯片封装 FCP MCM 多芯片组件 SoC 系统级芯片 发展
年,卷(期) hhwdzjs_2002,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 62-64,58
页数 4页 分类号 TN405
字数 语种 中文
DOI
五维指标
传播情况
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引文网络
引文网络
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2002(0)
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研究主题发展历程
节点文献
少数芯片封装
FCP
MCM
多芯片组件
SoC
系统级芯片
发展
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
混合微电子技术
季刊
安徽省合肥市6068信箱(合肥市绩溪路260号)
出版文献量(篇)
1458
总下载数(次)
46
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