新一代大规模集成电路高温动态老化测试系统的研制

• 作者: 冉立新 皇甫江涛 齐本胜
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 老化测试
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 页码范围: 5-9
• 页数: 5页
• 分类号: TN4
• 字数: 4352字
• 语种: 中文

摘要

本文充分利用分布式网络控制、可编程ASIC技术及数据库技术,在我国第三代集成电路高温动态老化系统BTI2000的基础上,研制开发了新一代大规模集成电路高温动态老化系统,其体系结构和性能指标较原系统有很大的改进和提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	皇甫江涛	浙江大学电子信息技术与系统研究所	7	55	4.0	7.0
2	冉立新	浙江大学电子信息技术与系统研究所	25	292	10.0	16.0
3	齐本胜	浙江大学电子信息技术与系统研究所	3	36	3.0	3.0