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摘要:
研究了圆片级芯片尺寸封装。使用再分布技术的圆片级封装制作了倒装芯片面阵列。如果用下填充技术,在再分布层里和焊结处的热疲劳应力可以减小,使倒装芯片组装获得大的可靠性。
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内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 超级CSP—一种晶圆片级封装
来源期刊 电子元器件应用 学科 工学
关键词 CSP 晶圆片级封装 再分布层 倒装芯片 下填充 电子产品 可靠性
年,卷(期) 2002,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 44-47
页数 4页 分类号 TN305.94
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 白玉鑫 6 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
CSP
晶圆片级封装
再分布层
倒装芯片
下填充
电子产品
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元器件应用
月刊
1563-4795
大16开
西安市科技路37号海星城市广场B座240
1999
chi
出版文献量(篇)
5842
总下载数(次)
7
总被引数(次)
11366
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