内建自测试中移位器的设计及其应用

• 作者: 杨军 毛武晋 王澍 许舸夫
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 移位器 转置线形反馈移位寄存器
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 页码范围: 444-447
• 页数: 4页
• 分类号: TP332.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2002.04.027

摘要

本文提出了一种新的方法和综合技术用来去除多扫描链内建测试中由线形反馈移位寄存器引起的测试向量线性关联性.利用本方法可以高效的设计内建自测试中移位器并且保证足够扫描链间的位移和每条扫描通道尽少量的门数开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学国家集成电路系统工程中心	210	2336	24.0	38.0
2	毛武晋	东南大学国家集成电路系统工程中心	4	26	1.0	4.0
3	王澍	东南大学国家集成电路系统工程中心	7	18	2.0	4.0
4	许舸夫	东南大学国家集成电路系统工程中心	5	36	3.0	5.0