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摘要:
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硅基锗硅驰豫衬底的外延生长
硅基锗硅薄膜
驰豫衬底
外延生长
锗硅外延工艺优化对28nm PMOS器件性能的改善
锗硅外延
薄膜堆叠层
器件性能
PMOS器件
CMOS集成电路用φ150-200mm外延硅材料
外延生长
CMOSEEACC:2520C
0520
内容分析
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文献信息
篇名 CMOS硅外延技术与硅外延片
来源期刊 中国科技成果 学科
关键词
年,卷(期) 2002,(3) 所属期刊栏目 合作转让园地
研究方向 页码范围 25-26
页数 2页 分类号
字数 2122字 语种 中文
DOI
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期刊影响力
中国科技成果
半月刊
1009-5659
11-4484/N
北京复兴路15号245室中国科技成果编辑部
chi
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