高速网络芯片测试方法研究

• 作者: 吴建平 徐恪 徐明伟
• 来源期刊: 清华大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 网络芯片测试 测试方法 网络芯片 POS (packet over SONET)
• 年，卷（期）: 2003,（9）
• 所属期刊栏目: 计算机科学与技术
• 页码范围: 1276-1279
• 页数: 4页
• 分类号: TP393.06
• 字数: 2692字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0054.2003.09.033

摘要

针对网络芯片测试方法研究不多的现状,该文在描述测试概念和抽象测试结构的基础上,根据测试系统中控制观察点的位置,给出了5种网络芯片抽象测试方法,即: 集中测试法,分布测试法,远程测试法,穿越测试法和回绕测试法.利用这些测试方法,对用于核心路由器高速接口卡上的OC-48c POS (packet over SONET)芯片进行了功能、互操作和性能测试,并分析了测试结果.测试实践表明,这些抽象测试方法能够满足网络芯片测试的需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐明伟	清华大学计算机科学与技术系	111	1649	19.0	38.0
2	徐恪	清华大学计算机科学与技术系	154	2232	24.0	42.0
3	吴建平	清华大学计算机科学与技术系	298	5155	36.0	63.0