基于累加器的内建自测方法研究与分析

• 作者: 曾晓洋 章倩苓 顾震宇 龚绿怡
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: Booth乘法器 故障覆盖率 测试向量 单元故障模型
• 年，卷（期）: 2003,（11）
• 所属期刊栏目: 微电子技术
• 页码范围: 77-80
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2003.11.022

摘要

在适于采用内建自测方法进行可测性设计的电路中,累加器往往是一种被普遍采用的基本单元,如通用处理器和数字信号处理电路中的算术及逻辑运算电路.文章以Booth乘法器为例,介绍了利用累加器电路进行内建自测输出响应分析的几种常见形式,同时给出了相应的故障覆盖率、硬件开销和时延等方面的比较结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曾晓洋	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	103	555	13.0	19.0
2	章倩苓	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	72	481	12.0	17.0
3	顾震宇	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	6	44	4.0	6.0
4	龚绿怡	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	2	7	2.0	2.0