离子色谱法测定化成箔中微量硫酸根含量

• 作者: 冯哲圣 杨邦朝 肖庆国 袁正希
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 化成箔 离子色谱法 硫酸根 铝电解电容器
• 年，卷（期）: 2003,（8）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 20-22
• 页数: 3页
• 分类号: TM535+.2
• 字数: 2144字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2003.08.008

摘要

研究了测定化成箔中的微量SO42-含量的离子色谱法:将化成箔用碱溶液溶解后,用活性Al2O3分离柱除去Al3+等干扰离子,以峰面积积分定量测定了化成箔中SO42-的含量.本方法的检测下限为2.5×10-6g@cm-2,硫酸根的回收率为98.56%～101.35%,用于实际样品的分析,取得了较好的检测结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨邦朝	电子科技大学微电子与固体电子学院	253	3422	31.0	49.0
2	冯哲圣	电子科技大学微电子与固体电子学院	44	541	13.0	22.0
3	肖庆国	电子科技大学微电子与固体电子学院	2	10	2.0	2.0
4	袁正希	电子科技大学微电子与固体电子学院	19	74	5.0	7.0