集成电路的可靠性再筛选

• 作者: 张树文
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 集成电路 可靠性 可靠性筛选
• 年，卷（期）: 2003,（3）
• 所属期刊栏目: 研发与交流
• 页码范围: 116-118
• 页数: 3页
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2003.03.037

摘要

本文介绍了器件可靠性筛选在集成电路生产过程和工艺生产上的重要性,提出了器件可靠性筛选的一些重要方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张树文		2	6	2.0	2.0