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摘要:
提出了一种将极化效应引入GaN基异质结器件模拟中的方法.在传统器件模拟软件中,通过在异质结界面插入δ掺杂层,利用其离化的施主或受主充当极化产生的固定电荷从而引入极化效应.模拟了Ga面生长和N面生长的AlGaN/GaN单异质结,结果显示只有前者在异质结界面有载流子限制效应,而后者没有;Ga面生长的AlGaN/GaN异质结界面处自由电子面密度随Al组分以及AlGaN的厚度增加而增加.以上模拟结果与其他报道中的实验以及计算结果一致,说明该方法可有效地将极化效应引入GaN基异质结器件的模拟中.
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文献信息
篇名 AlGaN/GaN异质结中极化效应的模拟
来源期刊 中国科学G辑 学科 物理学
关键词 AlGaN/GaN 异质结 极化 模拟
年,卷(期) 2004,(4) 所属期刊栏目 物理学
研究方向 页码范围 422-429
页数 8页 分类号 O4
字数 2584字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-7275.2004.04.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 杨辉 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室 179 2701 25.0 46.0
2 李娜 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室 207 2106 25.0 37.0
3 赵德刚 中国科学院半导体研究所集成光电子国家重点实验室 42 214 9.0 12.0
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模拟
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中国科学(物理学 力学 天文学)
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