基于DSP的存储器测试系统

• 作者: 刘明亮 高剑
• 来源期刊: 中国计量学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 存储器测试 数字信号处理器 图形发生器
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 273-276
• 页数: 4页
• 分类号: TP312
• 字数: 2736字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1540.2004.04.003

摘要

介绍了以AD公司推出的高速浮点DSP-TS101为设计平台的存储器测试用图形发生器的原理和实现方法,详细地分析、研究了高速测试存储器的软件、硬件.本测试系统突破了传统测试方法的限制,具有结构紧凑、编程灵活的特点,其测试速度超过了国内存储器测试用图形发生器40 MHz的最高速度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘明亮	北京工业大学电子信息与控制工程学院	36	327	9.0	16.0
2	高剑	北京工业大学电子信息与控制工程学院	6	62	4.0	6.0