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摘要:
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一款国产SoC器件模拟部分测试技术研究
硬件资源
测试向量
模拟部分
转换器
模拟开关
SOC系统设计技术发展与挑战
系统级芯片
SiP
IP模块
专用集成电路
基于SoC芯片测试结构的研究
SoC
测试外壳Wrapper
TAM
测试规划
SOC测试访问机制
SOC
IP核
测试访问机制
复用
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 挑战现有测试技术的SoC器件
来源期刊 世界电子元器件 学科
关键词
年,卷(期) 2004,(3) 所属期刊栏目 测试测量
研究方向 页码范围 75-77
页数 3页 分类号
字数 5339字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-7604.2004.03.025
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡志勇 86 124 5.0 8.0
传播情况
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2004(0)
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2006(1)
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
世界电子元器件
月刊
1006-7604
11-3540/TN
16开
北京市北四环西路67号大地科技大厦1201-1218
82-796
1995
chi
出版文献量(篇)
5855
总下载数(次)
6
总被引数(次)
6108
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