逆向的PLA可测性设计

• 作者: 刘杰 梁华国
• 来源期刊: 计算机辅助设计与图形学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 可编程逻辑阵列 可测性设计 通用测试集 乘积线 移位寄存器 异或门串
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 所属期刊栏目: VLSI设计与测试及电子设计自动化
• 页码范围: 1553-1556
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3505字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-9775.2004.11.015

摘要

根据PLA电路结构的规整性和独特性,提出了一种逆向思维的可测性设计方案,即通过适当的方法把输出端进行输入端化,把或阵列转变成与阵列,并采用了纵向观测技术 .经过方案评估得出此方案在不降低故障检测覆盖率的情况下,既使用通用测试集,又减少测试矢量数,还大大节约了附加硬件开销.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
2	刘杰	合肥工业大学计算机与信息学院	52	347	11.0	16.0