内嵌快闪存储器的测试优化与分析

• 作者: 吕宗伟 张归雁
• 来源期刊: 电脑知识与技术：学术交流
• 学科: 工学
• 关键词: 内嵌快闪存储器 测试 优化 可靠性 非挥发性存储器 数据存储 计算机
• 年，卷（期）: 2005,（2）
• 页码范围: 87-89
• 页数: 3页
• 分类号: TP333

摘要

由于对快闪存储器的广泛应用，对优化测试和可靠性日益迫切的要求成为一大重要挑战。因此．本文通过分析阐述如何合理有效应用夺路并行测试策略，可以更有效的在快闪存储器测试时间和产量方面达到很好的平衡。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张归雁	上海交通大学微电子学院	1	0	0.0	0.0
2	吕宗伟		1	0	0.0	0.0