CMOS组合电路开路故障的BIST探讨

• 作者: 唐璞山 谢波 黄维康
• 来源期刊: 复旦学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体技术 集成电路测试 开路故障 内建自测试
• 年，卷（期）: 2005,（1）
• 页码范围: 95-100,117
• 页数: 7页
• 分类号: TN407
• 字数: 5945字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0427-7104.2005.01.020

摘要

对CMOS组合电路开路故障的测试方法进行了探讨.一种方法通过对电路输出的跳变次数进行计数,然后与无故障电路输出的跳变次数的期望值进行比较,可以检测到所有的开路故障,对于有n个输入端的电路完成测试需要6×2n个测试向量.另一种方法基于种子存储的自适应BIST方法,该方法充分利用开路故障的特征,实例验证表明能够在3×2n+1个时钟周期内完成对CMOS组合电路开路故障的测试,它在不用修改被测电路网络的前提下可对多开路故障达到完全的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐璞山	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	36	143	7.0	9.0
2	谢波	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	2	3	1.0	1.0
3	黄维康	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	3	19	3.0	3.0