面向存储器核的内建自测试

• 作者: 徐勇军 李华伟 李晓维 檀彦卓 韩银和
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 可测试性设计 存储器内建自测试 故障模型 March算法
• 年，卷（期）: 2005,（4）
• 所属期刊栏目: 硬件测试
• 页码范围: 40-42,65
• 页数: 4页
• 分类号: TP333.06
• 字数: 4034字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2005.04.014

摘要

存储器内建自测试是当前针对嵌入式随机存储器测试的一种经济有效的途径.它实质是BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成"片上BIST测试结构",作为E-RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口,负责控制功能,实现片上E-RAM的自动测试.根据一个实际项目,本文介绍了MBIST的整体设计过程,并针对测试开销等给出了定量和定性的讨论.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华伟	中国科学院计算技术研究所	55	595	14.0	22.0
2	徐勇军	中国科学院计算技术研究所	47	744	14.0	26.0
3	韩银和	中国科学院计算技术研究所	48	573	12.0	22.0
4	李晓维	中国科学院计算技术研究所	127	1467	20.0	32.0
5	檀彦卓	中国科学院计算技术研究所	3	26	1.0	3.0