谱分析方法的混合电路BIST

• 作者: 刘春江 颜学龙
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 片上系统 功率谱密度 数模混合电路
• 年，卷（期）: 2006,（2）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TN45
• 字数: 2703字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2006.02.016

摘要

SoC芯片内对于混合信号电路测试有着举足轻重的作用.本文介绍了一种通过谱密度分析方法的混合电路内建自测试.此方法通过使用噪声源与比较器数字量化得到被测信号的频谱特性.它的主要特点是电路简单、抗干扰性能强和多点插入多路并行采集,不需要多位AD转换器和多路选择开关.此方法基本上是全数字式的,采用一位量化,数据处理速度快,能满足给定条件下的实时处理要求;并可利用系统内已有的资源,适应于SoC环境.本文给出了系统实现的详细结构和一个测试锁相环电路的测试仿真实例,验证了谱分析方法的测试有效性.