基于数据切片的系统芯片测试控制技术研究

• 作者: 安建峰 张盛兵 樊晓桠 王党辉 高德远
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 数据切片 测试 系统芯片 测试调度
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 195-200
• 页数: 6页
• 分类号: TP303
• 字数: 4373字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2006.03.002

摘要

在基于总线结构的系统芯片测试中, 提出了在考虑扫描控制信号的条件下, 采用测试数据切片的测试控制方式来降低测试调度的粒度, 从而提高测试访问机制带宽的利用率. 并给出了在这种控制方式下测试时间的下限值. 最后采用 VCS 仿真器在 Benchmark ITC'02 中若干电路上对提出的测试控制方法进行仿真实验, 结果显示: 相对于文献[Kumar S, Marinssen E J. Control-Aware Test Architecture Design for Modular SoC Testing[C]. IEEE Proceedings of 8th European Test Workshop, Maastricht, The Netherlands: IEEE CS, 2003:57-62.]中考虑了测试控制的最优结果, 测试时间要缩短约 12.00%～21.90%;另外, 相对于其它文献中不考虑测试控制的结果, 测试时间还要缩短大约 1.82%～30.40%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高德远	西北工业大学航空微电子中心	166	1045	15.0	24.0
2	张盛兵	西北工业大学航空微电子中心	142	912	15.0	23.0
3	樊晓桠	西北工业大学航空微电子中心	170	1393	17.0	29.0
4	安建峰	西北工业大学航空微电子中心	25	103	6.0	8.0
5	王党辉	西北工业大学航空微电子中心	31	94	5.0	7.0