超深亚微米SOC芯片的测试技术

• 作者: 袁春锋 郭昕
• 来源期刊: 高性能计算技术
• 学科: 工学
• 关键词: 超深亚微米 SOC芯片 测试 IP核 延迟故障
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 高性能计算前沿概览
• 页码范围: 5-8
• 页数: 4页
• 分类号: TP332
• 语种: 中文

摘要

目前,集成电路已经发展到超深亚微米(USDM)SOC芯片,芯片的性能和集成度提高的同时,其测试技术也面临着许多挑战.本文根据超深亚微米SOC芯片的特点阐述了测试面临的问题和挑战,讨论了超深亚微米SOC芯片的测试方法、策略以及技术实现.