深亚微米SoC中的电源/地网络设计

• 作者: 侯朝焕 时昕 王东辉
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 电源分配 电源网络 电迁移 IR压降 信号完整性 可靠性
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 页码范围: 198-202,206
• 页数: 6页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7180.2004.12.052

摘要

随着芯片集成度的不断提高,其上所消耗的功率也在不断增加,因此,电源/地网络设计的可靠性与有效性就成为了SoC设计中一个关键性的问题.以往的设计中,通常都是由设计师根据经验进行电源/地网络的设计,因而可能导致设计效率的降低,延长了芯片的上市时间.针对这个问题,本文首先介绍了IR压降和电迁移现象的产生原因及其影响因素.其次,提出了一种方法,在芯片物理设计的初始阶段,就对其电源/地网络进行可靠的估算,并在估算的基础上进行电源/地网络的设计,从而在设计的早期确保了电源分配的可靠性,提高了设计效率.最后,本文通过一个DSP＆CPU芯片的设计实例,介绍了该方法的使用,并获得了良好的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	侯朝焕	中国科学院声学研究所	156	1085	18.0	25.0
2	王东辉	中国科学院声学研究所	63	370	10.0	17.0
3	时昕	中国科学院声学研究所	2	51	2.0	2.0