深亚微米SoC芯片的可测试性设计

• 作者: 沈绪榜 王涛 胡剑
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 可测性设计 测试 测试访问
• 年，卷（期）: 2008,（23）
• 所属期刊栏目: 研发、设计、测试
• 页码范围: 88-92
• 页数: 5页
• 分类号: TP302
• 字数: 5164字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3778/j.issn.1002-8331.2008.23.028

摘要

深亚微米工艺使SoC芯片集成越来越复杂的功能,测试开发的难度也不断提高.由各种电路结构以及设计风格组成的异构系统使测试复杂度大大提高,增加了测试时间以及测试成本.描述了一款通讯基带SoC芯片的DFT实现,这款混合信号基带芯片包含模拟和数字子系统,IP核以及片上嵌入式存储器,为了满足测试需求,通过片上测试控制单元,控制SoC各种测试模式,支持传统的扫描测试以及专门针对深亚微米工艺的,操作在不同时钟频率和时钟域的基于扫描的延迟测试模式,可配置的片上存储器的BIST操作以及其它一些特定测试模式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈绪榜	西北工业大学计算机学院	23	173	8.0	12.0
2	王涛	西北工业大学计算机学院	100	658	13.0	21.0
3	胡剑	西北工业大学计算机学院	4	22	2.0	4.0