加速试验中失效机理一致性的判别方法

• 作者: 李志国 程尧海 谢雪松 郭春生 马卫东
• 来源期刊: 半导体学报
• 学科: 工学
• 关键词: 加速试验 失效机理 一致性
• 年，卷（期）: 2006,（3）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 560-563
• 页数: 4页
• 分类号: TN32
• 字数: 2840字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-4177.2006.03.033

摘要

通过对电子器件加速试验失效模型--Arrhenius模型的研究,发现加速试验过程中,失效机理不发生改变时,电子器件失效敏感参数的退化速率与施加应力的负倒数遵从指数关系,从而提出了一种加速试验失效机理一致性的判定方法.对样品3DG130进行了150～310℃的序进应力加速试验,快速得到了失效机理一致的应力范围,验证了该方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李志国	北京工业大学电子信息与控制工程学院	57	418	12.0	18.0
2	郭春生	北京工业大学电子信息与控制工程学院	44	302	10.0	15.0
3	马卫东	北京工业大学电子信息与控制工程学院	15	132	6.0	11.0
4	程尧海	北京工业大学电子信息与控制工程学院	17	154	6.0	12.0
5	谢雪松	北京工业大学电子信息与控制工程学院	66	554	14.0	20.0