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VDMOSFET的终端优化设计
VDMOSFET的终端优化设计
作者:
孙嘉兴
杨颖
林爽
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
VDMOSFET
结终端
击穿电压
摘要:
主要介绍了VDMOSFET的终端优化设计,讨论了已有终端结构中的场环、场板技术,工作原理.以一种新型的高频VDMOSFET与模拟栅相结合的结构为例,详细讨论了场板在减少反馈电容、提高器件的击穿电压、降低导通电组、改善跨导、提高输出电阻、改进安全工作区方面的理论机制及作用.
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内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
VDMOSFET的终端优化设计
来源期刊
辽宁大学学报(自然科学版)
学科
工学
关键词
VDMOSFET
结终端
击穿电压
年,卷(期)
2006,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
228-231
页数
4页
分类号
TN861.3
字数
2789字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-5846.2006.03.011
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
孙嘉兴
辽宁大学物理系
17
52
5.0
6.0
2
林爽
辽宁大学物理系
2
11
2.0
2.0
3
杨颖
辽宁大学物理系
1
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研究主题发展历程
节点文献
VDMOSFET
结终端
击穿电压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
辽宁大学学报(自然科学版)
主办单位:
辽宁大学
出版周期:
季刊
ISSN:
1000-5846
CN:
21-1143/N
开本:
大16开
出版地:
沈阳市皇姑区崇山中路66号
邮发代号:
8-147
创刊时间:
1974
语种:
chi
出版文献量(篇)
1909
总下载数(次)
2
总被引数(次)
9019
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