分支结构电路的可测性设计优化

• 作者: 应俊 柳逊 程君侠
• 来源期刊: 复旦学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 集成电路 分支结构 可测性设计 内建自测试 测试向量 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2006,（1）
• 页码范围: 92-95,101
• 页数: 5页
• 分类号: TN402
• 字数: 2958字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0427-7104.2006.01.020

摘要

在硬件设计的初期可以对硬件测试中条件分支结构引起的测试向量冗余问题加以解决.以ALU为例,提出了两种分支结构电路的可测性优化设计,通过调整分支电路的选择条件来控制测试向量的施加,在保证错误覆盖率的同时可以明显减少不必要的测试向量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程君侠	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	32	310	9.0	17.0
2	柳逊	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	2	28	1.0	2.0
3	应俊	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	1	0	0.0	0.0