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摘要:
在直拉单晶硅生长的过程中,自然对流对晶体界面的形状、温度场及应力分布影响很大.本文采用二维模型对熔体内自然对流对单晶硅的影响作了数值模拟,在低雷诺数时采用层流模型,高雷诺数时采用紊流模型,Gr的变化范围从3×106到3×1010,这样涵盖了从小尺寸到大尺寸的直拉单晶硅生长系统.数值结果表明熔体的流动状态不仅与熔体的Gr有关,还与熔体高度和坩埚半径的比值密切相关.当Gr>108时,熔体内确实存在紊流现象,层流模型不再适合, 随着Gr的增大,紊流现象加剧,轴心处的等温线变得更为陡峭,不利于晶体生长.
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文献信息
篇名 数值模拟自然对流对直拉单晶硅的影响
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 直拉单晶硅 自然对流 数值模拟
年,卷(期) 2006,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 696-701,695
页数 7页 分类号 O78
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-985X.2006.04.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 隋允康 北京工业大学机电学院 183 2359 26.0 41.0
2 宇慧平 北京工业大学机电学院 38 239 9.0 13.0
3 安国平 北京工业大学机电学院 19 166 7.0 12.0
4 王敬 16 83 5.0 8.0
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研究主题发展历程
节点文献
直拉单晶硅
自然对流
数值模拟
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
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