单晶碳和锗薄膜热导率的分子动力学模拟

• 作者: 吴国强 孔宪仁 孙兆伟 杨德琛 王书廷 王亚辉
• 来源期刊: 哈尔滨工业大学学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 分子动力学 热导率 纳米薄膜 尺寸效应
• 年，卷（期）: 2006,（4）
• 页码范围: 517-519
• 页数: 3页
• 分类号: O369
• 字数: 2378字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0367-6234.2006.04.006

摘要

采用非平衡分子动力学(NEMD)方法分别模拟碳和锗纳米薄膜的法向热导率.模拟结果表明:厚度为2～5nm的碳晶体薄膜在温度为300～500K的法向热导率显著小于对应的大体积晶体的实验值,并随薄膜厚度的增加而增加,法向热导率与薄膜厚度呈近似线性关系;厚度为2.8175～11.27nm的单晶锗纳米薄膜在温度为300～500K时的法向热导也存在明显的尺寸效应,薄膜的热导率与其厚度呈近似线性关系,并且随着薄膜厚度的增加而增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴国强	哈尔滨工业大学卫星工程技术研究所	12	141	5.0	11.0
2	孙兆伟	哈尔滨工业大学卫星工程技术研究所	109	747	14.0	21.0
3	孔宪仁	哈尔滨工业大学卫星工程技术研究所	83	825	14.0	25.0
4	王亚辉	哈尔滨工业大学卫星工程技术研究所	8	28	4.0	5.0
5	杨德琛	哈尔滨工业大学卫星工程技术研究所	1	4	1.0	1.0
6	王书廷	哈尔滨工业大学卫星工程技术研究所	1	4	1.0	1.0