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降低泄漏电流的细粒度休眠晶体管插入法
降低泄漏电流的细粒度休眠晶体管插入法
作者:
杨华中
林海
汪玉
汪蕙
罗嵘
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
泄漏电流
细粒度
休眠晶体管
延时模型
混和整数线性规划
摘要:
首先给出一种泄漏电流和延时的简化模型,并且在此基础上提出了一种降低泄漏电流的细粒度休眠晶体管插入法.该方法的核心是利用混合整数线性规划方法同时确定插入细粒度休眠晶体管的位置和尺寸.从实验结果可以发现,由于这种方法更好地利用了电路中的延时余量,所以在电路性能不受影响的情况下可以减小79.75%的泄漏电流;并且在一定范围内放宽电路的延时约束可以更大幅度地降低泄漏电流.与传统的固定放宽延时约束的方法相比较,当延时约束放宽7%时,这种方法可以节约74.79%的面积.
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文献信息
篇名
降低泄漏电流的细粒度休眠晶体管插入法
来源期刊
半导体学报
学科
工学
关键词
泄漏电流
细粒度
休眠晶体管
延时模型
混和整数线性规划
年,卷(期)
2006,(2)
所属期刊栏目
研究论文
研究方向
页码范围
258-265
页数
8页
分类号
TN406
字数
1165字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:0253-4177.2006.02.012
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
罗嵘
清华大学电子工程系
31
121
7.0
10.0
2
杨华中
清华大学电子工程系
92
500
13.0
16.0
3
汪蕙
清华大学电子工程系
38
398
11.0
19.0
4
汪玉
清华大学电子工程系
4
1
1.0
1.0
5
林海
清华大学电子工程系
2
7
1.0
2.0
传播情况
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同被引文献
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二级引证文献
(0)
1995(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1999(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2003(2)
参考文献(2)
二级参考文献(0)
2004(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2006(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
泄漏电流
细粒度
休眠晶体管
延时模型
混和整数线性规划
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体学报(英文版)
主办单位:
中国电子学会和中国科学院半导体研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-4926
CN:
11-5781/TN
开本:
大16开
出版地:
北京912信箱
邮发代号:
2-184
创刊时间:
1980
语种:
eng
出版文献量(篇)
6983
总下载数(次)
8
相关基金
国家高技术研究发展计划(863计划)
英文译名:
The National High Technology Research and Development Program of China
官方网址:
http://www.863.org.cn
项目类型:
重点项目
学科类型:
信息技术
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