集成电路的设计验证

• 作者: 倪青
• 来源期刊: 电脑知识与技术：学术交流
• 学科: 工学
• 关键词: 设计验证 协同仿真 自测检验 基于覆盖率的方法
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 页码范围: 145-146
• 页数: 2页
• 分类号: TP331

摘要

集成电路设计业正面临着一系列的挑战：芯片性能越来越强，规模越来越大，开发周期越来越长，设计质量越采越难于控制。而随着半导体技术的发展，设计验证已经逐渐成为大规模集成电路设计的主要瓶颈。而设计验证最基本的内容是功能验证，用于判别设计规范和实现之间是否一致；对模拟验证、形式验证中的等价性检验和模型检验进行了介绍，然后引入传统方法的一种改进——基于覆盖率的验证方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	倪青	华东师范大学软件学院	2	1	1.0	1.0