非易失性存储器在测试仪器中的应用

• 作者: 刘言 梁磊 陈乃超 黄锦杰
• 来源期刊: 上海电力学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 非易失性 存储器 测试仪器
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 技术应用
• 页码范围: 75-78
• 页数: 4页
• 分类号: TP216.2
• 字数: 1809字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-4729.2007.01.020

摘要

针对在使用RAM保存数据由掉电带来的数据丢失问题,提出了一种利用非易失性存储器存储测试仪器参数和重要数据的方法.由于存储器的存储量大、接口简单、更换存储芯片方便,实现了数据备份和接口扩展的功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁磊	上海电力学院能源与环境工程学院	30	139	7.0	10.0
2	陈乃超	上海电力学院能源与环境工程学院	18	62	5.0	7.0
3	黄锦杰	上海电力学院能源与环境工程学院	1	2	1.0	1.0
4	刘言	上海电力学院能源与环境工程学院	1	2	1.0	1.0