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SJ/Z 11352-2006《集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范》
SJ/Z 11352-2006《集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范》
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摘要：
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集成电路三温测试数据在失效分析中的应用
测试数据
集成电路
失效分析
数字测试交换格式数据的应用与开发
数字测试可交换格式
IEEE标准1445-1998
应用与开发
数字电路
测试诊断数据
基于 LVDS的高速数据交换引擎 IP核设计
现场可编程门阵列
串行解串
同步处理
低压差分信号
双倍数据速率
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期刊影响力
信息技术与标准化
主办单位：
中国电子技术标准化研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1671-539X
CN：
11-4753/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市亦庄经济技术开发区同济南路8号
邮发代号：
82-452
创刊时间：
1959
语种：
chi
出版文献量（篇）
4638
总下载数（次）
23
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