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CESI-Verigy集成电路测试验证实验室在北京成立
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摘要：
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文献信息
| 篇名 | CESI-Verigy集成电路测试验证实验室在北京成立 | ||
| 来源期刊 | 半导体信息 | 学科 | 经济 |
| 关键词 | CESI-Verigy 测试验证 半导体科技 高档化 瑞捷 半导体测试 设计电路 胡燕 研发周期 专利侵权 | ||
| 年，卷（期） | bdtxx_2007,（5） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 4-4 | |
| 页数 | 1页 | 分类号 | F426.63 |
| 字数 | 语种 | ||
| DOI | |||
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节点文献
CESI-Verigy
测试验证
半导体科技
高档化
瑞捷
半导体测试
设计电路
胡燕
研发周期
专利侵权
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相关学者/机构
期刊影响力
半导体信息
主办单位：
中国半导体行业协会分立器件分会
中国电子科技集团公司第五十五研究所
出版周期：
双月刊
ISSN：
CN：
开本：
16开
出版地：
南京市1601信箱43分箱（南京市中山东
邮发代号：
创刊时间：
1990
语种：
chi
出版文献量（篇）
5953
总下载数（次）
11
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