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摘要:
基于CSMC 0.5 μm CMOS工艺,采用CMOS技术,设计一种高性能的带隙基准电压源.带隙基准电压源输出电压经过电平转换电路,反馈回带隙基准电压源中的运算放大器,可以获得良好的电源特性和带负载能力.采用可修调电阻阵列,精确地控制温度系数.仿真结果表明:在5 V电源电压下,温度系数为8.28×10-6/℃,低频电源抑制比为83 dB.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 一种高电源抑制比的CMOS带隙基准电压源
来源期刊 华中科技大学学报(自然科学版) 学科 工学
关键词 带隙基准 反馈 温度系数 电源抑制比 可修调电阻
年,卷(期) 2007,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 106-108
页数 3页 分类号 TN431.1
字数 1717字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1671-4512.2007.11.030
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 陈胜 华中科技大学电子科学与技术系 60 570 13.0 22.0
2 张道礼 华中科技大学电子科学与技术系 33 158 7.0 10.0
3 梁延彬 华中科技大学电子科学与技术系 2 12 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
带隙基准
反馈
温度系数
电源抑制比
可修调电阻
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期刊影响力
华中科技大学学报(自然科学版)
月刊
1671-4512
42-1658/N
大16开
武汉市珞喻路1037号
38-9
1973
chi
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