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一种高电源抑制比的CMOS带隙基准电压源
一种高电源抑制比的CMOS带隙基准电压源
作者:
吴艳辉
张道礼
梁延彬
陈胜
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
带隙基准
反馈
温度系数
电源抑制比
可修调电阻
摘要:
基于CSMC 0.5 μm CMOS工艺,采用CMOS技术,设计一种高性能的带隙基准电压源.带隙基准电压源输出电压经过电平转换电路,反馈回带隙基准电压源中的运算放大器,可以获得良好的电源特性和带负载能力.采用可修调电阻阵列,精确地控制温度系数.仿真结果表明:在5 V电源电压下,温度系数为8.28×10-6/℃,低频电源抑制比为83 dB.
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文献信息
篇名
一种高电源抑制比的CMOS带隙基准电压源
来源期刊
华中科技大学学报(自然科学版)
学科
工学
关键词
带隙基准
反馈
温度系数
电源抑制比
可修调电阻
年,卷(期)
2007,(11)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
106-108
页数
3页
分类号
TN431.1
字数
1717字
语种
中文
DOI
10.3321/j.issn:1671-4512.2007.11.030
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
陈胜
华中科技大学电子科学与技术系
60
570
13.0
22.0
2
张道礼
华中科技大学电子科学与技术系
33
158
7.0
10.0
3
梁延彬
华中科技大学电子科学与技术系
2
12
2.0
2.0
传播情况
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研究主题发展历程
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温度系数
电源抑制比
可修调电阻
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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相关学者/机构
期刊影响力
华中科技大学学报(自然科学版)
主办单位:
华中科技大学
出版周期:
月刊
ISSN:
1671-4512
CN:
42-1658/N
开本:
大16开
出版地:
武汉市珞喻路1037号
邮发代号:
38-9
创刊时间:
1973
语种:
chi
出版文献量(篇)
9146
总下载数(次)
26
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