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4H-SiC
射频功率MESFET
I-V特性
解析模型
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 Surface Blisters and Craters on 4H-SiC Induced by 30 keV He and 120 keV O-ions Implantation
来源期刊 近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报:英文版 学科 工学
关键词 扫描电子显微镜 离子注入 表面起泡 碳化硅 小时 O型 相互作用能 SiC
年,卷(期) 2008,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 60
页数 1页 分类号 TN16
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研究主题发展历程
节点文献
扫描电子显微镜
离子注入
表面起泡
碳化硅
小时
O型
相互作用能
SiC
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
中国科学院近代物理研究所和兰州重离子研究装置年报:英文版
年刊
兰州市城关区南昌路509号
出版文献量(篇)
4411
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