篇名 | Surface Blisters and Craters on 4H-SiC Induced by 30 keV He and 120 keV O-ions Implantation | ||
来源期刊 | 近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报:英文版 | 学科 | 工学 |
关键词 | 扫描电子显微镜 离子注入 表面起泡 碳化硅 小时 O型 相互作用能 SiC | ||
年,卷(期) | 2008,(1) | 所属期刊栏目 | |
研究方向 | 页码范围 | 60 | |
页数 | 1页 | 分类号 | TN16 |
字数 | 语种 | ||
DOI |