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摘要:
美国吉时利(Keithley)仪器公司日前宣布将与Stratosphere Solutions公司(Sunnyvale,CA)合作采用阵列TEG(测试元件组)技术展开先进工艺研发和监测工作.
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文献信息
篇名 吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术
来源期刊 电子世界 学科 交通运输
关键词 工艺特征 吉时利 技术 研发 仪器公司 ns公司 监测工作 测试元件
年,卷(期) 2008,(3) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 4
页数 1页 分类号 TN305|U463.82
字数 语种 中文
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研究主题发展历程
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工艺特征
吉时利
技术
研发
仪器公司
ns公司
监测工作
测试元件
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子世界
半月刊
1003-0522
11-2086/TN
大16开
北京市
2-892
1979
chi
出版文献量(篇)
36164
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96
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46655
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