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摘要:
本文提出了一种新型的对称式SON LDMOS功率器件.在对器件击穿电压进行解析分析的基础上,利用Silvaco TCAD仿真软件Atals验证了漂移区设计对器件击穿电压的影响,证明了峰值击穿电压的存在.并且对比分析了SON LD-MOS与SOI LDMOS击穿电压和寄生电容方面的优势,研究表明SON LDMOSD在击穿电压上比SOI LDMOS器件提高了近3倍,并且其寄生电容也较小,这为SON LDMOS在功率方面的应用提供了部分理论支持.
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文献信息
篇名 新型功率器件SON-LDMOS的设计和研究
来源期刊 电子器件 学科 工学
关键词 SOI SON LDMOS 击穿电压
年,卷(期) 2009,(2) 所属期刊栏目 纳米、固态及真空电子器件
研究方向 页码范围 291-295
页数 5页 分类号 TN43
字数 3552字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-9490.2009.02.014
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 程秀兰 上海交通大学微电子学院 48 205 5.0 12.0
2 高正鑫 上海交通大学微电子学院 1 3 1.0 1.0
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研究主题发展历程
节点文献
SOI
SON
LDMOS
击穿电压
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子器件
双月刊
1005-9490
32-1416/TN
大16开
南京市四牌楼2号
1978
chi
出版文献量(篇)
5460
总下载数(次)
21
总被引数(次)
27643
论文1v1指导