基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
为了满足目前对大容量、高速、高可靠性静态随机存储器(SRAM)越来越多的需求和解决高集成度的SRAM成品率深受生产工艺影响的问题,文章提出了一个256k×16bit高性能SRAM的设计.主要针对以下几个方面进行了描述:采用分级字线的方法和字线局部译码电路,提高速度;采用全PMOS管启动电路、与电源无关的偏置和加入补偿电容的稳压电路消除振荡、提高可靠性、降低功耗;冗余修补电路提高产品成品率.该4M_bit SRAM芯片采用SMIC 0.18 μm标准工艺,地址转换和存取时间仅为8ns,在SS模型125℃加入寄生参数且每个I/O PAD端口挂50pF电容的情况下,仿真结果表明从地址建立到数据读出仅需要7.16ns.
推荐文章
一种超低功耗、容错的静态随机存储器设计
静态随机存储器
双互锁存储单元
单粒子翻转
电路设计
静态随机存储器总剂量辐射及退火效应研究
静态随机存储器
总剂量效应
功耗电流
退火效应
亚微米特征工艺尺寸静态随机存储器单粒子效应实验研究
静态随机存储器
多位翻转
重离子加速器
65 nm三阱CMOS静态随机存储器多位翻转实验研究
多位翻转
静态随机存储器
三阱
双极效应
重离子
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 8ns 4M_bit高可靠性静态随机存储器
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 静态存储器 字线局部译码电路 电压降低转换电路 冗余修补电路
年,卷(期) 2010,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 16-20
页数 分类号 TN402
字数 2371字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.10.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王燕 苏州大学电子信息学院 29 82 6.0 8.0
2 周云波 江南大学物联网工程学院 4 9 2.0 2.0
3 张国贤 4 10 2.0 3.0
4 杨晓花 2 21 2.0 2.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (1)
参考文献  (4)
节点文献
引证文献  (2)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1990(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2004(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2006(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2008(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2010(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2011(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2017(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
静态存储器
字线局部译码电路
电压降低转换电路
冗余修补电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
论文1v1指导