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Si衬底GaN基蓝光LED老化性能
Si衬底GaN基蓝光LED老化性能
作者:
江风益
肖友鹏
莫春兰
邱冲
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
硅衬底
GaN
蓝光 LED
老化
光衰
摘要:
报道了芯片尺寸为500 μm ×500μm硅衬底GaN基蓝光LED在常温下经1 000 h加速老化后的电学和发光性能,其光功率随老化时间的变化分先升后降两个阶段;老化后的反向漏电流和正向小电压下的电流均有明显的增加;老化后器件的外量子效率(EQE)比老化前低;老化前后EQE衰减幅度在不同的注入电流下存在明显差异,衰减幅度最小处出现在发光效率最高时对应的电流密度区间.
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文献信息
篇名
Si衬底GaN基蓝光LED老化性能
来源期刊
发光学报
学科
工学
关键词
硅衬底
GaN
蓝光 LED
老化
光衰
年,卷(期)
2010,(3)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
364-368
页数
分类号
O482.31|TN383.1
字数
2797字
语种
中文
DOI
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作者信息
序号
姓名
单位
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被引次数
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G指数
1
莫春兰
南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心
24
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3
江风益
南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心
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7
肖友鹏
南昌大学教育部发光材料与器件工程研究中心
4
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邱冲
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期刊影响力
发光学报
主办单位:
中国物理学会发光分会
中科院长春光机所
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-7032
CN:
22-1116/O4
开本:
大16开
出版地:
长春市东南湖大路16号
邮发代号:
12-312
创刊时间:
1970
语种:
chi
出版文献量(篇)
4336
总下载数(次)
7
总被引数(次)
29396
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