FPGA电路动态老化技术研究

• 作者: 朱卫良 郁振华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 动态老化 FPGA 配置
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 24-27
• 分类号: TN406
• 字数: 2290字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.07.007

摘要

近年来,随着FPGA电路在军工和航天领域的广泛应用,用户对FPGA电路的可靠性要求也越来越高.在集成电路的可靠性评估试验中,动态老化试验是最重要的试验之一,FPGA动态老化技术的实现可以提高FPGA电路的可靠性.文章通过研究FPGA电路内部结构和功能模块,讨论FPGA电路加载配置过程的原理和流程,通过对动态老化和静态老化的对比试验和结果分析,研究出FPGA电路动态老化试验方法,并在工程实践中得到了成功实现和应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郁振华	中国电子科技集团公司第五十八研究所	2	5	1.0	2.0
2	朱卫良	中国电子科技集团公司第五十八研究所	19	108	6.0	9.0