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摘要:
使用X射线衍射仪(XRD)、X射线光电子能谱仪(XPS)和高分辨透射电子显微镜(HRTEM)对磁控溅射CrAlTiN镀层的相组成、化学态和截面微观结构进行了综合分析.分析结果表明,CrAlTiN镀层具有明显的纳米多层结构,多层膜的周期为4.9nm.CrAlTiN镀层是由多种物相组成的复合镀层,以CrN型金属氮化物为主体,同时含有少量的Cr、Al金属单质以及M2O3(Al2O3,Cr2O3和Ti2O3)型金属氧化物,镀层生长时Al、Ti金属原子取代CrN晶格中的Cr原子形成CrN型金属氮化物.
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文献信息
篇名 磁控溅射CrAlTiN镀层的微观结构研究
来源期刊 西安理工大学学报 学科 工学
关键词 磁控溅射 微结构 CrAlTiN镀层 XPS HRTEM
年,卷(期) 2010,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 398-402
页数 分类号 TG174.2
字数 3396字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-4710.2010.04.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 蒋百灵 西安理工大学材料科学与工程学院 241 5240 40.0 64.0
2 陈迪春 西安理工大学材料科学与工程学院 15 95 5.0 9.0
3 吴文文 西安理工大学材料科学与工程学院 3 18 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
磁控溅射
微结构
CrAlTiN镀层
XPS
HRTEM
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
西安理工大学学报
季刊
1006-4710
61-1294/N
大16开
西安市金花南路5号
1978
chi
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2223
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6
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21166
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