基于BIST的FPGA测试方法研究

• 作者: 杨超 陈政平 高成 鹿靖
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA BIST 查找表
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 66-69
• 分类号: TP332
• 字数: 2637字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2010.09.020

摘要

文章讨论了利用内建自测试结构对FPGA内部可编程逻辑资源进行测试的方法.以基于SRAM结构的FPGA为例,分析了一种查找表内建自测试方案在实际应用中存在的问题,并提出了一种改进测试方法,解决了综合过程中存在的不匹配问题.同时,还消除了由地址叠加造成的波形错位和周期错误,并在XC3S400芯片上完成了测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨超	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	126	899	17.0	25.0
2	高成	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	42	195	8.0	13.0
3	鹿靖	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	5	31	3.0	5.0
4	陈政平	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	4	18	2.0	4.0