基于BIST的SRAM型FPGA故障测试

• 作者: 宋庆恒 杨会平 王晓鹏
• 来源期刊: 测控技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 故障诊断 BIST 互连资源 可编程逻辑资源
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 数据采集与处理
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TN710
• 字数: 3269字
• 语种: 中文

摘要

从生产者角度对FPGA芯片测试技术进行深入而全面的研究,是保证制造出高可靠性芯片的一个重要前提.由于FPGA具有可重复编程性,该方法通过编程将FPGA内部资源划分为多个内建自测试(BIST,built in self test)模块,然后多次配置改换每个BIST模块中各个组成部分的角色和测试路径,进而达到对FPGA内部资源完全测试的目的.由于给出的方法是将内部资源作为一个整体来测试,所以FPGA的可编程逻辑资源和互连资源的测试问题可同时进行,继而有效地减少编程难度和测试时间.最后的实验结果表明该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋庆恒	怀化学院物理与信息工程系	15	45	3.0	6.0
2	王晓鹏	怀化学院物理与信息工程系	4	7	2.0	2.0
3	杨会平	怀化学院物理与信息工程系	2	4	2.0	2.0