片上NOR-flash内嵌自测试的算法选择

• 作者: 于忠臣 孙建 王栋
• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: FLASH 内建自测试算法 片上系统
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 24-27
• 页数: 4页
• 分类号: TP311.5

摘要

从flash存储器的基本工作原理出发,基于flash错误模型的总结性研究,重点对Flash-march算法、March-FT算法、BF＆D算法以及Cocktail-March算法的效率进行了分析和评价,并针对不同需求的flash自测试提出了其算法选择方案。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于忠臣	北京工业大学北京市嵌入式重点实验室	38	77	4.0	8.0
2	王栋	北京工业大学北京市嵌入式重点实验室	2	0	0.0	0.0
3	孙建	北京工业大学北京市嵌入式重点实验室	3	0	0.0	0.0